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日本日置 C測(cè)試儀
更新時(shí)間：2019-05-31
日本日置 C測(cè)試儀 3504-40/50/60封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等● 高速測(cè)量2ms● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
3504-40/50/60日本日置 C測(cè)試儀的詳細(xì)資料
日本日置 C測(cè)試儀 3504-40/50/60
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等
● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
注意：
輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
日本日置 C測(cè)試儀 3504-40/50/60
| 測(cè)量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
|---|---|
| 測(cè)量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測(cè)定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù) |
| 測(cè)量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測(cè)量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測(cè)量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí)） |
| 顯示 | 發(fā)光二級(jí)管 （6位表示，滿(mǎn)量程計(jì)算器根據(jù)量程而定） |
| 測(cè)量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類(lèi)測(cè)量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線(xiàn)×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說(shuō)明書(shū)×1 |
上海君達(dá)儀器儀表有限公司
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