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日本日置 LCR測試儀

更新時間：2019-05-31

日本日置 LCR測試儀 IM3536
DC，4Hz~8MHz測量頻率
● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時間：較快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
● 可內部發生DC偏壓測量
● 從研發到生產線活躍在各種領域中

IM3536日本日置 LCR測試儀的詳細資料

日本日置 LCR測試儀 IM3536

DC，4Hz~8MHz測量頻率

● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時間：快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
● 可內部發生DC偏壓測量
● 從研發到生產線活躍在各種領域中

注意：

主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

電解電容器的電容測量：LCR測試儀IM3536

根據JIS標準測試電解電容器，電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大，因此需要根據實際回路的工作頻率來確認電容值。
LCR測試儀IM3536寬測試頻率范圍DC,4Hz~8MHz，適用于以上產品特性評估。

陶瓷電容器的電容測量：LCR測試儀IM3536

陶瓷電容器可分為，隨電壓變化的高介電常數型和溫度補償型。JIS標準針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內置電壓范圍10mV~5V，非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。

電感器（線圈）的電感測量：LCR測試儀IM3536

電感器（線圈）所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現象稱為自諧振。將產生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時請在比自諧振頻率更低的頻率下測量L和Q。
LCR測試儀IM3536的測量頻率很廣，可以設置為DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改變測試頻率進行測試。

測量電感器的頻率特性：LCR測試儀IM3536

LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣，可以設置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評估連續改變頻率的測量。在計算機中安裝附件LCR采用應用軟件（CD-R），并通過接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進行掃頻功能，自動測量出的測量數值能夠以Excel或CSV格式進行保存。

日本日置 LCR測試儀 IM3536

基本參數

測量模式	LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）
測量參數	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程	100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）
顯示范圍	Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度	Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測量頻率	4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平	[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓	發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗	通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能	比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口	EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量	330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件	電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1